atomu spēka afm mikroskops
Atomu spēku mikroskops (AFM), analītisks instruments, ko var izmantot, lai pētītu cieto materiālu, tostarp izolatoru, virsmas struktūru.Tā pēta vielas virsmas struktūru un īpašības, atklājot ārkārtīgi vājo interatomisko mijiedarbību starp pārbaudāmā parauga virsmu un mikrospēku jutīgu elementu.Būs pāris vāja spēka ārkārtīgi jutīgs mikrokonsoles gals fiksēts, otrs mazā gala gals tuvu paraugam, tad tas mijiedarbosies ar to, spēks liks mikrokonsoles deformācijai vai kustības stāvoklim izmaiņām.Skenējot paraugu, sensoru var izmantot šo izmaiņu noteikšanai, mēs varam iegūt spēka informācijas sadalījumu, lai iegūtu nanoizšķirtspējas informācijas virsmas morfoloģiju un virsmas raupjuma informāciju.
★ Integrētā skenēšanas zonde un paraugs ir uzlabojusi prettraucējumu spēju.
★ Precīzijas lāzera un zondes pozicionēšanas ierīce padara zondes nomaiņu un vietas regulēšanu vienkāršu un ērtu.
★ Izmantojot parauga zondes tuvošanās veidu, adata var būt perpendikulāra parauga skenēšanai.
★ Automātiskā impulsa motora piedziņas kontroles parauga zonde vertikāli tuvojas, lai panāktu precīzu skenēšanas zonas pozicionēšanu.
★ Interešu parauga skenēšanas apgabalu var brīvi pārvietot, izmantojot augstas precizitātes mobilās ierīces parauga dizainu.
★ CCD novērošanas sistēma ar optisko pozicionēšanu nodrošina reāllaika novērošanu un zondes parauga skenēšanas zonas pozicionēšanu.
★ Modularizācijas elektroniskās vadības sistēmas dizains veicināja ķēdes apkopi un nepārtrauktu uzlabošanu.
★ Vairāku skenēšanas režīmu vadības ķēdes integrācija, sadarbojas ar programmatūras sistēmu.
★ Atsperu piekare ar vienkāršu un praktisku uzlabotu prettraucējumu spēju.
| Darba režīms | FM pieskāriens, izvēles kontakts, berze, fāze, magnētiskais vai elektrostatiskais |
| Izmērs | Φ≤90 mm,H≤20mm |
| Skenēšanas diapazons | 20 mm XY virziens,2 mm Z virzienā. |
| Skenēšanas izšķirtspēja | 0,2 nm XY virzienā,0,05 nm Z virzienā |
| Parauga kustības diapazons | ±6,5 mm |
| Motora impulsa platums tuvojas | 10±2 ms |
| Attēlu paraugu ņemšanas vieta | 256 × 256,512 × 512 |
| Optiskais palielinājums | 4X |
| Optiskā izšķirtspēja | 2,5 mm |
| Skenēšanas ātrums | 0,6 Hz ~ 4,34 Hz |
| Skenēšanas leņķis | 0°~360° |
| Skenēšanas kontrole | 18 bitu D/A XY virzienā,16 bitu D/A Z virzienā |
| Datu izlase | 14 bitA/D,dubultā 16 bitu A/D daudzkanālu sinhronā iztveršana |
| Atsauksmes | DSP digitālā atgriezeniskā saite |
| Atsauksmes paraugu ņemšanas ātrums | 64,0 KHz |
| Datora saskarne | USB2.0 |
| Darbības vide | Windows98/2000/XP/7/8 |